测试和测量系统对设备设计师构成复杂挑战。自动测试设备 (ATE) 包含许多集成的测试仪器,用于对所谓“被测设备 (DUT)”进行测试。ATE 可自动快速执行测量并评估测试结果,能够测试和诊断复杂晶圆级或封装电子部件的故障,包括系统芯片和集成电路。自动测试设备设计师所需的先进电路材料不仅需要具有高性能,还需兼具卓越的电气特性。这正是他们选择罗杰斯产品的原因所在。

ATE 电路材料解决方案

罗杰斯的高频层压板经过特别设计,足以满足 ATE 系统中高速数字电路设计在电气和热性能方面的独特要求。罗杰斯的电路材料插入损耗低、介电常数容差小,能够赋予 ATE 系统和 DUT 界面卡设计师更多灵活性,助力他们快速、准确测试最为复杂的电子元件。

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